高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器產(chǎn)品和電子零件的冷熱交變沖擊試驗(yàn)。使用低溫和高溫冷蓄熱罐，根據(jù)動(dòng)作打開(kāi)閥門，通過(guò)送風(fēng)系統(tǒng)將低溫和高溫快速送入試驗(yàn)罐，從而達(dá)到效果快速的溫度影響。平衡溫度調(diào)節(jié)控制系統(tǒng)（BTC）+專門設(shè)計(jì)的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，P.I.D.控制SSR。方式，使系統(tǒng)的發(fā)熱量與熱損失相等，可以長(zhǎng)期穩(wěn)定使用。

 

　　一般來(lái)說(shuō)，高低溫沖擊試驗(yàn)箱的運(yùn)行分為預(yù)處理、初始檢測(cè)、試驗(yàn)、恢復(fù)和檢測(cè)五個(gè)部分。

　　1、預(yù)處理：將被測(cè)樣品置于正常測(cè)試大氣條件下，直至溫度穩(wěn)定。

　　2、初試：將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行對(duì)比，符合要求后直接放入試驗(yàn)箱中。

　　3、測(cè)試：

　　（1）將試驗(yàn)樣品按標(biāo)準(zhǔn)要求放入試驗(yàn)箱內(nèi)，將試驗(yàn)箱（箱）內(nèi)的溫度升高到規(guī)定點(diǎn)并保持一定時(shí)間，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到穩(wěn)定溫度，取其更長(zhǎng)。

　　（2）高溫階段結(jié)束后，將試樣轉(zhuǎn)移至低溫試驗(yàn)箱（箱）中，5min內(nèi)調(diào)至-55℃，保持1H或直至試樣達(dá)到穩(wěn)定溫度，以時(shí)間較長(zhǎng)者為準(zhǔn)。

　　（3）試驗(yàn)箱溫度達(dá)到70℃后，將樣品長(zhǎng)期放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，或?qū)⒃囼?yàn)箱長(zhǎng)期保持在70℃。

　　（4）重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，完成三個(gè)循環(huán)。根據(jù)樣本大小和空間大小，時(shí)間上可能會(huì)有輕微誤差。

　　4、回收：試樣從高低溫沖擊試驗(yàn)箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行回收，直至試樣溫度穩(wěn)定。

　　5、測(cè)試：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度等方法對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)。